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手持光譜儀（XRF）—X-MET5000，該儀器能夠進行高精度、高可靠性的元素分析。手持式X射線熒光光譜儀，X-MET5000是其第四代產品。
這款的光譜儀擁有高性能和高可靠性，綜合了PentaFET探測器技術，能夠保證多種用戶感興趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素檢測下限。這款光譜儀專門為各種嚴格的質量控制應用而設計，例如金屬廢料回收利用、合金分類鑒定以及玩具和消費產品的含鉛量檢測結果是否符合RoHS指令要求。此外，X-MET5000還能滿足采礦業的需求，也可在環境監測行業中用于測定土壤中的重金屬含量。
X-MET5000的主要優勢在于其輕元素粗粒（LET）模式，此模式可允許對重金屬進行快速、準確地分析——即使樣品中存在鋁和硅等輕元素，仍不影響其分析結果。而其他普通分析儀由于只有使用“基本參數（FP）法”，根本無法分析由于輕元素的存在對最終的分析結果造成的干擾。
這款堅固、可靠的工具通過了IP54（NEMA3）認證，具備卓越的防水防塵性能。X-MET5000是惡劣應用環境的優質選擇。該儀器所配備的電池可持續使用一個工作日，從而提高了工作效率。
其強大的用戶自定義軟件能夠提高準確的分析結果，從而提高了“合格/不合格”決定的可靠性。X-MET5000能夠識別材料類型，并自動選擇分析方法。
借助于其可選配的臺式支架，可免除執行多分析任務時的手工操作，同時又不會令測量結果的置信水平受到影響。
這是一款深受鑒定機關青睞的多用途工具，專門為各種嚴格的質量控制應用而設計，例如“材料可靠性鑒定”（PMI）、流體加速腐蝕測試等。
對準樣品即可進行分析
5秒內完成304/321或CPTi/Ti-7牌號鑒定
可對管縫、焊縫的耐腐蝕性以及容器的合金進行分析
可在數秒內鑒定直徑小于1毫米的管線
可測量表面溫度高達400℃的物體 |